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神外前沿讯，2026年1月23日，美国神经病学学会官方期刊Neurology(中科院1区Top，Q1，IF=8.5）在线发表了Departments of Neurosurgery的梅奥诊所(Mayo Clinic)神经外科和神经内科等研究团队题为“Safety of Intracranial Neuromodulation in Drug-Resistant Pediatric and Adult Epilepsy”的研究成果。
作者团队： Cheng-Yen Kuo, Filip Mivalt, Raunak Singh, Ryan Toan Dinh Nguyen, Donnie Keith Starnes, Lily Wong-Kisiel, Nicholas M Gregg, Jamie Joseph Van Gompel, Kai Miller, Gregory A Worrell, Brian N Lundstrom（通讯作者）
展开剩余63%文章指出，颅内神经调控已成为成人药物难治性癫痫（DRE）的一种成熟疗法。改善癫痫发作控制效果并将其应用范围扩大至儿童患者仍是当前的重点方向。为追求更佳疗效，临床上已开始超说明书使用双电极（通道）和四电极神经调控装置，同时靶向多个神经网络节点，并结合多种刺激参数。尽管早期研究结果令人鼓舞，但这些方法的安全性仍需进一步评估。本研究旨在评估单中心、不同颅内神经调控装置相关的不良事件（AE）发生率。
本回顾性研究纳入了2004年8月至2024年12月期间在梅奥诊所（明尼苏达州罗切斯特）接受颅内神经调控治疗的DRE患者。从病历中提取人口统计学资料、癫痫特征、治疗指征、手术细节及不良事件信息。不良事件指与装置植入和使用相关的任何不良反应，无论其是否由装置直接引起。严重不良事件是指危及生命、导致住院、造成持续或显著残疾，或导致死亡的事件。患者按年龄分为儿童（<13岁）、青少年（13–18岁）和成人（≥19岁）三组。
结果显示，共纳入217例患者（男性108例，女性109例；其中儿童14例，青少年43例，成人160例）。植入装置包括双电极深部脑刺激（DBS）（111例）、四电极DBS（51例）和反应性神经刺激系统（RNS）（55例）。设备相关不良事件包括：刺激相关感觉异常（7.8%）、感染（4.1%）、无症状性颅内出血（ICH）（3.7%）、弓弦效应（即延伸导线牵拉限制颈部活动）（3.2%）、手术相关局灶性肌无力（2.3%）、伤口裂开（1.8%）、装置移位（1.8%）、电极错位（1.4%）、电极断裂（1.4%）、电极移位（0.5%）、延伸导线断裂（0.5%）、装置外露（0.5%）以及有症状性颅内出血（0.5%）。虽然总体不良事件发生率在不同性别间无显著差异，但女性患者的装置取出率显著高于男性患者（11.9% [13/109] vs 1.9% [2/108]，p = 0.006）。与其他年龄组和装置类型相比，儿童和植入四电极DBS的患者发生弓弦效应的风险更高。
本项研究指出，颅内神经调控在不同性别和年龄群体中均显示出可接受的安全性。然而，儿童和四电极DBS使用者发生弓弦效应的风险更高。这些发现强调了定制化装置设计和手术策略的必要性，以优化安全性，尤其是在儿童患者中。
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